産学イノベーション支援センター

教育研究設備 Equipments for Education and Research

先端計測分析部門で管理運用を行っている教育研究設備をご紹介します。ご利用方法につきましてはこちらをご覧ください。

顕微鏡群
透過型電子顕微鏡(TEM) 極微少領域の形態観察、構造解析、元素分析が可能です。
電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM, EDX) FE型で高倍率での微細構造観察が可能であり、EDXによる元素分析とマッピングにも対応しています。
低真空型走査型電子顕微鏡(LV-SEM) 生体試料等、低真空での微細構造観察に適しています。
原子間力顕微鏡(AFM) 試料表面を微細探針が走査して探針の動きをモニターします。探針掛かる力などから表面形状や物性のマッピング像が得られます。
X線分析装置群
単結晶X線構造解析装置(SCXRD) 単結晶試料にX線を照射して原子回折像を取得します。得られた回折像をコンピュータ処理により結晶構造の解析を行います。分子構造の決定に用います。
粉末X線回折装置(XRD) 粉末試料の結晶性評価、結晶構造解析、結晶膜試料の配向性の評価等に用います。
X線光電子分光分析装置(XPS) 試料表面にX線を照射して光電効果により発生する光電子の運動量を測定します。試料表面の化学種の同定、状態や組成の情報が得られます。
分光分析装置群
円二色性分散計(CD) 試料に直線偏光を照射して左右の円偏光の吸収強度の差を測定します。試料の光学活性や立体構造解析に用います。
フーリエ変換赤外分光光度計(FT-IR) 試料に赤外光を照射して分子振動によるエネルギー吸収量を測定します。試料の定性、同定、定量等に用います。
紫外-可視分光光度計(UV-Vis) 試料に紫外可視光を照射して電子遷移に伴うエネルギー吸収量を測定します。試料の定性、同定、定量等に用います。
蛍光分光光度計(FL) 試料を光励起させて基底状態へ戻る際に出す蛍光量を測定します。試料の定性、同定、定量等に用います。
共鳴分析装置群
電子スピン共鳴装置(ESR) 磁場中の試料にマイクロ波を照射して電子スピンからの信号を観測します。試料中のラジカルの定性、定量等に用います。
500MHz 核磁気共鳴装置(NMR-500) 磁場中の試料にラジオ波を照射して核スピンからの信号を観測します。化合物の構造解析、定性、定量等に用います。
質量分析装置群
マトリックス支援レーザー脱離イオン化飛行時間型質量分析装置(MALDI-TOFMS) 試料をイオン化して検出器への到達時間から分子の質量を求めます。低分子化合物の分子量測定、イオン化エネルギーに不安定な生体分子のライブラリ検索、合成高分子の分子量測定等に用います。
ガスクロマトグラフ質量分析装置(GC/MS) 試料をガスクロマトグラフで含有成分を分離して直接質量分析を行います。試料中の成分の分子量測定、ライブラリー検索、同定や試料の純度、定量等に用います。
物性分析装置群
熱重量・示差熱分析装置(TG-DTA) 加熱に伴う重量変化および吸発熱挙動の観測を行います。試料の熱分解、相変化挙動の観察や熱安定性の評価に用います。
粒子計測装置(DLS) 微粒子が分散している試料にレーザーを照射して粒子からの散乱光を測定します。試料の粒子径、データー電位、分子量の測定に用います。
屈折率計(RI) プリズムと接触した試料に照射した光の反射光から臨界角が得られ、屈折率が求められます。屈折率、Brix値(糖度)、濃度等の測定に用います。
成分分析装置群
高周波誘導結合プラズマ発光分析装置(ICP-AES) 溶液中の含有元素をpptレベルの高感度で定量分析することが可能です。
CHN元素分析装置(CHN-EA) 有機物を含む試料を高温下で閃光燃焼により燃焼分解し、燃焼分解ガス(CO2、H2O、N2)の量から試料中のC、H、N重量比が求められます。試料の組成や純度確認等に用います。
ガスクロマトグラフ(GC) 試料を気化して分離カラムと試料成分の親和性等を利用して成分分離を行います。分離成分の検出時間や信号量から試料の定性や定量、純度測定等に用います。

先端計測分析部門

TEL & FAX:
028-689-6301
E-MAIL:
k-bun01[at]cia.utsunomiya-u.ac.jp